掃描電鏡分析（SEM）是一種高分辨力電子顯微鏡技術，主要用于研究尺度上非常小的目標物質的分子結構。這種技術是通過掃描線圈使電子束掃查試樣表面，并與顯像管電子束的掃描同步，用掃查過程中產生的各種信號來調制顯像管的光點亮度，從而產生圖像。中科檢測開展掃描電鏡分析服務，具備CMA、CNAS資質認證。

在石油、地質、礦物領域，電子、半導體領域，醫學、生物學領域，化工、高分子材料領域，公安刑偵工作領域，以及農、林業等方面。

1能夠直接觀察樣品表面的微觀結構，樣品制備過程簡單，對樣品的形狀沒有任何限制，粗糙表面也可以直接觀察；
2樣品在樣品室中可動的自由度非常大，可以作三度空間的平移和旋轉，這對觀察不規則形狀樣品的各個區域細節帶來了方便；
3圖象富有立體感。掃描電鏡的景深是光學顯微鏡的數百倍，是透射電鏡的數十倍，故所得到的圖象立體感比較強；
4放大倍數范圍大，從幾倍到幾十萬倍連續可調。分辨率也比較高，介于光學顯微鏡和透射電鏡之間；
5電子束對樣品的損傷與污染程度小。由于掃描電鏡電子束束流小，且不是固定一點照射樣品表面，而是以光柵掃描方式照射樣品，所以對樣品的損傷與污染程度比較??；
6在觀察樣品微觀形貌的同時，還可以利用從樣品發出的其它物理信號作相應的分析，如微區成分分析。如果在樣品室內安裝加熱、冷卻、彎曲、拉伸等附件，則可以觀察相變、斷裂等動態的變化過程。

1.擁有眾多先進儀器設備并通過CMA/CNAS資質認可，測試數據準確可靠，檢測報告具有國際公信力。

2.科學的實驗室信息管理系統，保障每個服務環節的高效運轉。

3.技術專家團隊實踐經驗豐富，可提供專業、迅速、全面的一站式服務。

4.服務網絡遍布全球，眾多一線品牌指定合作實驗室。

銷售：出具檢測報告，提成產品競爭力；

研發：縮短研發周期，降低研發成本；

質量：判定原料質量，減少生產風險；

診斷：找出問題根源，改善產品質量；

科研：定制完整方案，提供原始數據；

競標：報告認可度高，提高競標成功率；